Mi a Boundary Scan? | JTAG Technologies

A Boundary Scan (JTAG) eljárás a modern NYÁK lapok tesztelését végzi összeállításuk után. A rendszer a mai, integrált áramkörökbe épített szabvány elektronikai megoldást használva ellenőrzi, hogy az eszközök megfelelően lettek-e elhelyezve és forrasztva az áramkörre.

Alkalmazása

A tipikus eszközök, amelyekben alkalmazható ez a technológia, tartalmaznak CPLD-ket, FPGA-kat, mikroprocesszorokat, DSP-ket, ASIC-ket, busz logikát, SERDES-t, telekommunikációs kódolásokat, PHY-ket és hidakat (PCI/PCIe).

Számos gyártó alkalmazza a Boundary Scan technológiát, többek között az Intel, az Analog Devices, az ARM, a Freescale, az NXP, a PLX, az ST, a TI, a Renesas, a Xilinx, az Altera, a Lattice, a Broadcom és az Actel.

A gyakorlatban

A boundary-scant támogató eszközök négy (néha öt) dedikált teszt elérési port (TAP) jelet bocsátanak ki:

  1. TCK (Test Clock)
  2. TMS (Test Mode Select)
  3. TDI (Test Data In)
  4. TDO (Test Data Out)
  5. TRST (Test Logic Reset) (nem kötelező)

IEEE 1149.1

Hogy a nyákon belül leegyszerűsítsék a vizsgálati infrastruktúrát gyakori, hogy az eszközök sorosan kötik össze (daisy chain formation) úgy, hogy az első eszköz TDO-ja csatlakozik a következő TDI-jéhez és így tovább. Ezt az elrendezést nevezzük scan láncnak. A szoftver kiküld bizonyos teszt vektorokat (bitsor) és visszaolvassa az áramkörök válaszait. 

Szeretné még jobban megismerni az eljárást?

A Boundary Scan tesztelés alapjai eBook

Vissza ide:

Vissza

Speciális akciók
Altium Vault Próbalehetőség
Bővebben
Altium Designer az új cégeknek!
Bővebben
Hírek
Jön az első valós idejű, multiprotokoll megoldás
Bővebben
Itt az első, IoT-ra tervezett Wi-Fi modul
Bővebben
Megjelent az Altium Designer 18
Bővebben